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xqjiang@rtec-instruments.cn
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Teléfono
18013892749
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Dirección
Habitación 305, 26 Shangdi Chuangye Middle road, Distrito de haidian, Beijing
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¿¿ qué?Ayuda
¿¿ qué?Beijing zhongjingyi Technology co., Ltd.
xqjiang@rtec-instruments.cn
18013892749
Habitación 305, 26 Shangdi Chuangye Middle road, Distrito de haidian, Beijing
Topografía tridimensionalResumen
Rotec 3DMorfologíaFabricado en Silicon valley, California. Ha sido utilizado por varios laboratorios, universidades e industrias. UPserieSe combinaron cuatro modos de imagen en una cabeza.Capaz de ejecutar múltiples pruebas en la misma plataforma de pruebas,Con solo hacer clic en el botón se puede convertir el modo de imagen. Esta combinación permite visualizar fácilmente cualquier superficie como una superficie transparente, plana, oscura, plana, curvada, etc. Cada modo de imagen tiene sus propias ventajas, yDiversosLas tecnologías se complementan entre sí.Esta tecnología de integración no solo favorece el análisis integral de los datos, sino que también reduce los costos de mantenimiento y, por lo tanto, mejora la eficiencia.

Combinación de delineador óptico 3D
Interferómetro de luz blanca
Microscopio confocal de disco giratorio
Microscopio de campo oscuro
Microscopio de campo brillante
Especificaciones de la plataforma principal
Especificaciones del producto
Plataforma eléctrica estándar 150x150mm (opcional 210x310mm)
Torreta estándar, torreta eléctrica opcional
El rango vertical puede alcanzar los 100 mm
Fase de inclinación 6 grados
XYplataformaResolución 0,1um
Modelo de empalme automático
Cabeza Sigma - Interferómetro de luz blanca
Cabeza Lambda - Interferómetro de luz blanca + confocal + campo oscuro + campo brillante
aplicación
●Rugosidad●Desgaste por volumen●Altura del escalón●Espesor de la película●Morfología
Ejemplo de imagen de prueba

Manchas de molienda de bolas en la superficie del recubrimiento áspero de bolas recubiertas de DLC

Canal microfluídico de Biopelícula de diamante
Monedas con marcas de tinta recubiertas de polímeros
Marcas de falla y arañazos en el aluminio de la almohadilla de molienda
Obleas de canal de chip con marcas de falla de recubrimiento
Lo anterior esSuperficie tridimensional de doble modoPerfiladorMorfología de la muestra tomada. Combinando una variedad de técnicas ópticas en la misma plataforma, el probador puede medir casi cualquier tipo de muestra de resolución nm. La superficieSiluetaEl instrumento está equipado con un potente software de análisis que cumple con una variedad de estándares. Superficie tridimensional de doble modoSiluetaEl medidor puede ejecutar múltiples pruebas en la misma plataforma de pruebas, y la combinación de productos se puede cambiar de acuerdo con diferentes requisitos de aplicación técnica. Se pueden realizar pruebas experimentales de diferentes modos en la misma zona de la muestra, y el cambio de modo se puede automatizar. La integración de múltiples tecnologías permite que diferentes tecnologías aprovechen al máximo sus respectivas ventajas en el mismo detector. Esta tecnología de integración no solo favorece el análisis integral de los datos, sino que también reduce los costos de mantenimiento y, por lo tanto, mejora la eficiencia.